“Fundamentals of Metrology Concepts” and “Project based learning applied to metrology instruction”

Como parte de la preparación y mayor profesionalización de docentes y alumnos de la Universidad Politécnica de Santa Rosa Jáuregui (UPSRJ), dio inicio el Seminario de Metrología “Fundamentals of Metrology Concepts” and “Project based learning applied to metrology instruction”.

El Seminario de Metrología consiste en dos cursos para profesores mencionados anteriormente, así como dos conferencias para los alumnos de la carrera de Ingeniería en Metrología Industrial, que serán impartidas los días 7 y 10 de noviembre, denominadas “How do you know your measurements are right ?” y “Essential elements for traceability”, en un horario de las 14:00 y 09:00 hrs., respectivamente, en la sala audiovisual de la universidad; adicionalmente en el Centro Nacional de Metrología (CENAM), se dictará la conferencia “Essential elements for traceability”.

La Universidad Politécnica de Santa Rosa Jáuregui gestionó a través del Fulbright Specialist Program, la visita de Mrs. Georgia Harris, quien es especialista del National Institute of Standars and Technology (NIST) en los Estados Unidos de América, con la finalidad de capacitar a alumnos y a profesores de la UPSRJ, y de otras instituciones del estado de Querétaro referente a conceptos y tendencias de la Metrología, así como la técnica de enseñanza de esta ciencia.

En lo que respecta a los asistentes se contará con la participación de profesores e investigadores de instituciones educativas y centros de investigación como la Universidad Nacional Aeronáutica de Querétaro, Universidad Politécnica de Ramos Arizpe, Universidad Politécnica de Guanajuato, Universidad Politécnica de Querétaro, Universidad Anáhuac de Querétaro, Instituto Tecnológico de Celaya y del Centro Nacional de Metrología.

El seminario tendrá una duración de 10 días, desarrollando el temario general: Sistemas de medición, Unidades, Incertidumbre de la medición, Aseguramiento de las mediciones y Trazabilidad. Con los cursos y las conferencias se consolida un alcance de 32 profesores de instituciones educativas de nivel superior y a 200 alumnos de la carrera en Metrología Industrial de la UPSRJ.

 

 

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